Sistema De Shearografía para el Análisis Dinámico de Materiales bajo Estrés Térmico

  • Nelson A. Correa-Rojas Instituto Tecnológico Metropolitano, Medellín
  • Jesús D. Causado-Buelvas Universidad Nacional de Colombia sede Medellín
  • Jorge A. Herrera-Cuartas Instituto Tecnológico Metropolitano, Medellín
Palabras clave: Shearografía, ensayo no destructivo, metrología óptica, transformada de Hilbert

Resumen

Los sistemas de shearografía son herramientas para el control e inspección de fallas e imperfecciones estructurales en diferentes tipos de aplicaciones industriales, automotrices y aeronáuticas. Se basan en la correlación digital de dos frentes de onda de patrones de speckle en dos estados de interés: con y sin carga. La técnica tiene la cualidad especial de ser autoreferenciada en sus frentes de onda y por tanto es muy robusta frente a perturbaciones ambientales. Se presenta un sistema shearografía en el cual se puede analizar el comportamiento dinámico de los esfuerzos que sufre un material en función de cambios en temperatura a lo largo de todo el proceso de carga térmica.

Biografía del autor/a

Nelson A. Correa-Rojas, Instituto Tecnológico Metropolitano, Medellín
Departamento de Electrónica y Telecomunicaciones, Instituto Tecnológico Metropolitano, Medellín
Jesús D. Causado-Buelvas, Universidad Nacional de Colombia sede Medellín
Escuela de Física, Universidad Nacional de Colombia sede Medellín, Medellín
Jorge A. Herrera-Cuartas, Instituto Tecnológico Metropolitano, Medellín
Departamento de Electrónica y Telecomunicaciones, Instituto Tecnológico Metropolitano, Medellín
Cómo citar
[1]
N. A. Correa-Rojas, J. D. Causado-Buelvas, y J. A. Herrera-Cuartas, «Sistema De Shearografía para el Análisis Dinámico de Materiales bajo Estrés Térmico», TecnoL., pp. 719–730, nov. 2013.

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Publicado
2013-11-19
Sección
Ciencias de la Computación

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