CASTRILLÓN-GALLEGO, Luis F. Reconstrucción del perfil de índice de refracción de una fibra óptica de silicio puro por el método de los elementos finitos y el patrón de campo cercano. TecnoLógicas, [S. l.], n. 18, p. 83–102, 2007. DOI: 10.22430/22565337.479. Disponível em: https://revistas.itm.edu.co/index.php/tecnologicas/article/view/479. Acesso em: 19 abr. 2024.