Castrillón-Gallego LF. Reconstrucción del perfil de índice de refracción de una fibra óptica de silicio puro por el método de los elementos finitos y el patrón de campo cercano. TecnoL. [Internet]. 26 de junio de 2007 [citado 25 de abril de 2024];(18):83-102. Disponible en: https://revistas.itm.edu.co/index.php/tecnologicas/article/view/479