ROJAS-DÍAZ, Jhoeen Sneyder; YEPES-LONDOÑO, John Jairo. Panorama de riesgos por el uso de la tecnología en América Latina. Trilogía Ciencia Tecnología Sociedad, [S. l.], v. 14, n. 26, p. e2020, 2022. DOI: 10.22430/21457778.2020. Disponível em: https://revistas.itm.edu.co/index.php/trilogia/article/view/2020. Acesso em: 25 abr. 2024.